1概述
自1976年第一個紅光LED問世以來,經(jīng)過30年的發(fā)展,LED已形成各種光譜系列產(chǎn)品,單個LED的功率也從最初的零點零幾瓦發(fā)展至幾瓦乃至數(shù)十瓦。2001年白光LED研制成功,人們期待LED最終能進入照明領域,甚至進入家庭照明。最新白光LED的研究成果更是激動人心。小功率LED的發(fā)光效率已達100l(fā)m/W。特別是RGB-LED的研究結果表明,LED也與常規(guī)三基色熒光燈一樣,可以獲得各種不同的色溫和均勻的照明環(huán)境。
LED光源的進展和人們對它在照明領域中應用的期待,也對相應的光學檢測技術有了新的要求。由于LED的光學特性與傳統(tǒng)光源有較大差別,需要研究開發(fā)適應這種新型光源的測量方法。
2國際照明委員會(CIE)技術委員會(TC)相關LED的技術特性研究
國際照明委員會(CIE)的兩個分部:D1(視覺和顏色分部)、D2(光和輻射測量分部),正在研究白光LED的顯色性和相關的計量問題,并已轉發(fā)D1∶TC1-65,TC1-62這兩個研究色表的目視測量和LED的顯色性的文件草案。
TC1-62文件《ColourRenderingofWhiteLEDLightSources》可能部分替代CIE13.3-1995出版物。這兩個文件已進入投票階段。
TC1-62文件《ColourRenderingofWhiteLEDLightSources》介紹了白光LED顯色指數(shù)CRI的目視實驗結果。CIE13.3-1995出版物中規(guī)定了CRI的計算方法,如果白光LED對CRI進行計算的結果與目視結果有矛盾,文件確定存在這一矛盾。技術報告的結論是:應用包括白光LED在內的顯色性計算時,CIECRI并不適用。技術委員會建議D1建立一組新的顯色指數(shù),這些顯色指數(shù)不立即替代目前的CIE顯色指數(shù)計算方法。新的顯色指數(shù)作為CIECRI的補充,在成功地應用組合新的顯色指數(shù)后才能確定替代目前CRI的計算方法。D2成立專門的技術委員會TC2-45研究LED的測量方法:TC2-45文件《Mea-surementofLEDS》正在投票中,它將會替代CIE127出版物。
3LED發(fā)光效率極限值
長期以來,半導體研究專家探索各種新技術以提高LED的內、外量子效率,2006年已有小功率白光LED發(fā)光效率達100lm/W的報導。為確定合理的LED發(fā)光效率期待值,需要從光度學、色度學的基礎上計算LED發(fā)光效率極限值。
1979年10月,第十屆國際計量大會(CGPM)定義了新坎德拉(cd)?驳吕ǎ悖洌榘l(fā)出單色輻射頻率540.0154×1012Hz(波長555nm)的光源在給定方向上的發(fā)光強度,在該方向上的輻射強度為:
1cd=(1/683)W/sr(波長555nm);
1cd=1lm/sr;
1W=683lm(波長555nm)。
如果忽略供電損耗、內量子效率、外量子效率數(shù)值,可以計算出各種光源和LED的發(fā)光效率極限值。
圖1為人眼光譜光效率及理想等能白光的光譜功率分布。由于人眼的光譜響應特性,理想等能白光經(jīng)加權計算后,可以得到在可見光譜范圍內的理想等能白光極限發(fā)光效率為182.45lm/W。
在照明領域中,一種新型光源的誕生,其壽命、光效是重要的質量指標,但它對各種顏色的顯色特性是照明光環(huán)境的另一重要質量指標。低壓鈉燈的2條黃色光譜線的理論發(fā)光效率可達450lm/W(如圖2所示),實際光效超過200lm/W。但由于它的顯色特性差,最終被高壓鈉燈、金鹵燈所替代。
考察LED這一新型光源,在犧牲一些顯色性指數(shù)Ra的條件下與理想等能白光比較,白光LED的極限發(fā)光效率還會高一些,大約在200lm上下。對于一個實際應用于照明領域中的白光LED,發(fā)光效率的目標值設定在150~160lm/W是合理的。
除了照明應用的白光LED外,各種光譜的LED的發(fā)光效率也可根據(jù)圖2所示的數(shù)據(jù)進行估算。圖3是紅、綠、藍(643nm,535nm,460nm)LED的極限發(fā)光效率值。
4LED與傳統(tǒng)光源的比較
(1)LED體積小,有各種不同的外形尺寸,適用于不同應用場所(如圖4所示)。
(2)LED具有多種顏色,紫外、紫色、綠色、黃色、紅色到紅外,白光LED光譜如圖5所示。
(3)LED光學參數(shù)與溫度有關(如圖6、圖7所示);
(4)LED光學參數(shù)與觀察角度有關;
(5)LED有各種不同的配光曲線,而且沒有確定的光軸(如圖8所示)。
LED的上述特性,給LED光學特性的測量帶來很多問題。
5LED光學特性的測量
LED的光學特性檢測應從下面幾個特性來考慮:
(1)發(fā)光強度;
(2)總光通量;
(3)光譜特性、色品坐標、主波長;
(4)發(fā)光強度的空間分布和總光通量。
5.1發(fā)光強度
由于LED的結構特點,為提高其發(fā)光效率,在其底部配裝反射器,實際上它本身就是一個燈具。各個區(qū)域發(fā)出的光線有不同的聚焦點,它并不是一個點光源。因此,在評價LED發(fā)光強度時,光度學中的距離平方反比定律不適用。CIE127出版物中規(guī)定了兩種目前國際公認的測量條件如圖9、圖10所示。
應用上述兩種測量條件的測量結果能進行國際間的對比。A和B測量條件并不嚴格按照發(fā)光強度的定義進行,因此被稱為“平均發(fā)光強度”(ALI)。
關于測量探測器的修正:由于測量探測器V(?姿)的配匹誤差將造成“平均發(fā)光強度”(ALI)的測量誤差(如圖11所示),V(?姿)的配匹誤差對紅、藍LED的測量結果影響更為嚴重,采用光譜修正方法可以提高測量精度。
探測器光譜匹配誤差的修正與色校正系數(shù)(CCF)的計算:
Es=k■Ps(?姿)V(?姿)d?姿(1)
Ps(?姿)為標準光源的相對光譜功率分布;
Ec=k■Pc(?姿)V(?姿)d?姿(2)
Pc(?姿)為待測光源的相對光譜功率分布;
■=■=k■(3)
S(?姿)為探測器的相對光譜靈敏度,為測量標準光源和待測光源的信號值,精確的照度值為:
Ec=k■Es(4)
對LED發(fā)光強度測量儀器的要求:
(1)測量立體角要正確
dΩ=0.001sr(A條件)
dΩ=0.01sr(B條件)
(2)測量機械軸正確;
(3)有效的防雜散光設計;
(4)精密的V(λ)光探測器;
(5)提供V(λ)光探測器光譜數(shù)據(jù),便于修正測量值;
(6)配備高穩(wěn)定性的供電電源。
5.2LED光通量的測量
應用分布式光度計可對LED總光通量進行精確測量(探測器光譜響應曲線已修正的條件下)。這是LED總光通量的絕對測量方法,但測試儀器昂貴,工業(yè)中常用積分球進行測量。
(1)積分球的尺寸盡可能大,可減少擋屏吸收及異物誤差;
(2)鍍層表面反射比越大,球內表面的響應率差異越少。目前在LED測試中,鍍層表面反射比甚至大于98%。
(3)注意被測LED的安裝位置,應將發(fā)射的光線對準積分球內表面響應均勻的區(qū)域;
(4)應用輔助光源減少擋屏吸收及異物誤差。
5.3光譜特性、色品坐標、主波長的測量
根據(jù)國際照明委員會(CIE)三次LED國際專家會議的技術交流和相關國際對比結果,現(xiàn)建議如下:
(1)國家計量部門應該采用雙單色儀測量系統(tǒng);
(2)單色儀測量系統(tǒng)可滿足工業(yè)部門應用;
(3)1nm和5nm光譜測量帶寬的色度測試結果比較接近,可采用5nm帶寬測量;
(4)主波長的對比測量差別很;
(5)CCD測量儀器相對誤差較大。
圖12是一些國際對比結果:CCD儀器對白光LED的測量對比。
6標準LED
6.1LED光學特性測量的理論與技術基礎
(1)根據(jù)以上對LED光學特性的分析,國家計量部門和工
界可應用常規(guī)的光度、色度及輻射度儀器對LED的總光通量、光譜特性、色品坐標、主波長、色溫等參數(shù)進行測量。
(2)對于LED發(fā)光強度的測量,由于LED發(fā)光特性不遵循光度學的距離平方反比定律,CIE127文件推薦采用A,B條件測量LED平均發(fā)光強度(ALI)。
(3)為了提高平均發(fā)光強度、光通量等量值傳遞過程中測量的不確定度和提高測量效率,CIE建立了Tc2-45、Tc2-46、Tc2-50等技術委員會,開展相關的研究和評價工作,以及對標準LED的研究。
(4)光度學、色度學、輻射度學的基本理論是LED的測量基礎。標準A光源是測定標準LED光譜功率分布特性的重要基準。
(5)準確的標準LED光通量值可用分布式光度計測量確定。
作為一種補充測試方法,美國(NIST)、匈牙利、英國(NPL)、德國(PTB)等國家以及我國都在積極開展標準LED研究工作。
6.2對標準LED特性的要求
(1)標準LED的工作溫度一般大于環(huán)境溫度,也有致冷的技術方案;
(2)標準LED的樣品需要老化幾百小時,選擇其中的穩(wěn)定者進行后期標定工作;
(3)標準LED必須與測試樣品具有同樣的光譜功率分布,需要建立多種不同顏色的標準LED。特別是白光LED,由于它可由不同光譜組成,研制通用的白光LED標準幾乎不太可能;
(4)標準LED必須與測試樣品具有同樣的發(fā)光強度分布曲線(配光曲線),如果待測LED的顏色(光譜)與標準LED(光譜)有差異,則需對光度探器進行光譜校正。
6.3應用標準LED測量的優(yōu)點
(1)不需要對光度探頭進行光譜校正;
(2)不需要對光度計參考平面進行嚴格的定位。